熱釋光劑量?jì)x是一種用于測量電離輻射劑量的設備，其工作原理基于物質(zhì)在被電離輻射照射后，會(huì )存儲能量并隨后以熱釋光的形式釋放出來(lái)。通過(guò)測量這種熱釋光的強度，可以推算出物質(zhì)所受到的輻射劑量。
工作原理：
核心組成部分包括一個(gè)包含輻射敏感材料的晶體。這種晶體在被電離輻射（如X射線(xiàn)、伽馬射線(xiàn)等）照射時(shí)，會(huì )吸收部分輻射能量，并在晶格中產(chǎn)生電子-空穴對。這些電子-空穴對被固定在晶格中，使得晶體存儲了輻射能量。當加熱晶體時(shí)，這些電子-空穴對重新獲得能量，并以熱釋光的形式釋放出來(lái)。釋放出的光強度與吸收的輻射能量成正比，因此可以用來(lái)推算輻射劑量。
測量原理：
熱釋光劑量?jì)x的測量過(guò)程分為兩個(gè)階段：加熱和發(fā)光測量。
1.加熱階段：在加熱過(guò)程中，晶體被逐漸加熱至一定溫度，這個(gè)溫度足以激發(fā)電子-空穴對使其獲得足夠的能量，但不足以破壞晶格結構。隨著(zhù)溫度的升高，電子-空穴對獲得能量并釋放出光子，這個(gè)過(guò)程就是熱釋光。
2.發(fā)光測量階段：在發(fā)光測量階段，熱釋光的光強被轉換為電信號，進(jìn)而被記錄下來(lái)。通常使用光電倍增管（PMT）來(lái)完成這一轉換過(guò)程。當光子進(jìn)入PMT時(shí)，會(huì )撞擊光電陰極并產(chǎn)生電子，這些電子在電場(chǎng)的作用下被倍增并產(chǎn)生電流信號。這個(gè)電流信號的大小與光子的數量成正比，因此可以用來(lái)推算輻射劑量。
通過(guò)對加熱和發(fā)光測量?jì)蓚€(gè)階段的綜合分析，可以得出晶體的熱釋光強度與所受輻射劑量之間的關(guān)系。這種關(guān)系可以通過(guò)校準來(lái)確定，并用于后續的輻射劑量測量。
在實(shí)際應用中，熱釋光劑量?jì)x具有較高的靈敏度和精度，因此被廣泛應用于輻射安全、放射治療、放射生物學(xué)等領(lǐng)域。同時(shí)，由于其非侵入性的特點(diǎn)，使得它成為一種理想的選擇，用于監測和控制工作人員在放射性環(huán)境中的暴露劑量。
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產(chǎn)品分類(lèi) / PRODUCT
更新時(shí)間：2024-01-10 
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