熱釋光退火爐

產(chǎn)品介紹：

CTLD-T200精密熱釋光退火爐是開(kāi)展個(gè)人劑量監測放射衛生技術(shù)服務(wù)機構專(zhuān)用產(chǎn)品。是對熱釋光探測器進(jìn)行熱處理的專(zhuān)用設備，用于熱釋光探測器使用前和照射后的熱處理（退火）。使用前的熱處理用于消除探測器的殘余劑量（測后殘余劑量）和本底劑量（放置一段時(shí)間所產(chǎn)生的劑量值），恢復探測器的初始靈敏度和發(fā)光曲線(xiàn)形狀；照后低溫退火用于消除探測器的低溫峰，縮短測量周期，多用于大批量探測器的測量中。CTLD-T200熱釋光退火爐是理想的退火裝置。

技術(shù)性能：

控溫范圍：從室溫到400℃連續可調

溫度顯示：液晶屏顯示

加熱體溫度波動(dòng)：≤±2℃

升溫速度：室溫至400℃≤0.5h

標定溫度：100℃，140℃，240℃，290℃，400℃

控溫精度：≤±1℃

工作時(shí)間：連續工作，8h內溫度漂移＜±0.5%

電源：交流220V、50HZ

尺寸：440mm×400mm×450mm

熱釋光劑量片主要計量學(xué)特征：

1、發(fā)光曲線(xiàn)：LiF:Mg,Ti熱釋光探測器在300℃以下具有6個(gè)發(fā)光峰，一般第5個(gè)峰作為劑量測定峰，峰值溫度為210℃左右。

2、衰退：≤5.6%/年。

3、均勻性：≤±3%（和探測器的分散性有關(guān)）

4、線(xiàn)性范圍：10^-4～3Gy。  

5、重復性：LiF:Mg,Ti熱釋光探測器重復性符合國家標準《個(gè)人和環(huán)境監測用熱釋光劑量測量系統》（GB10264-2014）規定的要求，其重復使用性能隨使用次數的增加更加穩定，一般在上百次以上。

6、長(cháng)期穩定性：在環(huán)境溫度低于40℃的環(huán)境下，累積劑量信息的衰退在3-6個(gè)月內可以忽賂不計，若環(huán)境溫度≥50℃時(shí)，則其劑量信息的衰退約為（3-5）％/月。

7、能量相應：1.30（對30keV的X射線(xiàn)與⁶⁰Coγ射線(xiàn)的響應比）

8、光照效應：對于室內散射日光、白熾燈光、日光燈無(wú)明顯響應，對于直射陽(yáng)光照射則有明顯響應。

應用領(lǐng)域

對放射性輻射的個(gè)人劑量、事故劑量、皮膚劑量和環(huán)境劑量的自動(dòng)化測量。應用于各級疾病預防控制中心、輻射環(huán)境監測站、出入境檢驗檢疫、食品藥品檢測中心、醫院放射科、核醫學(xué)科、核電站、高等院校核工程與核技術(shù)研究等。